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半导体新闻

“双院士”领衔,先进电子束晶圆检测设备项目落地无锡高新区

7月28日,先进电子束晶圆检测设备项目签约活动在无锡高新区举行。据悉,电子束检测和测量技术、设备研发是IC装备、半导体制造、控制领域至关重要的核心环节之一,是集成电路技术中能够检测和测量集成电路图案结构中最小缺陷的唯一方案。 2022-08-02

半导体芯片X射线检测测试设备有哪些

半导体X-ray在线检测设备 LX2000: LX2000是一款外形美观、检测区域大、分辨率强、放大倍率高的全新在线式X-Ray检测系统。该系统采用封闭式射线源和平板探测器作为核心部件,具备良好的检测效果。 2022-08-01

中国工业X射线检测系统发展前景看好

下游有许多应用X射线检测技术的行业,包括一般工业、半导体、锂电池、食品药品检测等行业。近年来,下游行业对工业X射线检测系统的需求保持了相当大的增长。全球经济的复苏和下游产业的推动,使得工业射线检测系统产业前景十分广阔。 2022-07-21

半导体所在硅基锗锡中红外探测器方面获进展

中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室成步文研究团队研制出工作在中红外波段的硅基锗锡探测器。 2022-07-06

车规级功率半导体X射线无损检测

X射线检测设备还可以用于检测封装后的车规级功率半导体,帮助提升产品的一致性,利用X射线的穿透性,能够在不破坏产品外观的前提下,对大批量的功率半导体进行在线100%全检,保证所有出厂的汽车半导体在生产工艺上不存在缺陷,提高产品可靠性。 2022-06-09

二维导电系统内新效应“浮出水面”,太赫兹探测器立功

研究负责人、英国剑桥大学卡文迪什实验室半导体物理组负责人大卫·里奇教授解释道:“太赫兹波是介于微波和红外辐射之间的一种电磁辐射,但我们目前缺乏廉价、高效、易用的太赫兹辐射源和探测器,阻碍了太赫兹技术的广泛应用。” 2022-05-28

研究成果竟能“进入”手机 中国散裂中子源也有“接地气”的一面

“近期,中国散裂中子源大气中子辐照谱仪成功出束,未来将为新型半导体器件等领域的科研工作提供大气中子辐照试验环境,填补我国在该领域的空白。”近日,由中国科学院院士、中国散裂中子源工程总指挥陈和生领衔的“散裂中子源国家重大科技基础设施项目”获得2021年度广东省科技进步奖特等奖。 2022-05-12

新一代飞秒激光器兼具实用性和精确性

新一代超快激光器经过专门优化,可支持终端市场的用户需求,例如增材制造、医学、半导体计量和应用研究。 2022-04-28

半导体制造背后的隐秘与伟大

半导体晶圆的整个制造过程中包含数百个步骤,需要一到两个月的时间。在任意一步如果附着了灰尘或尘粒,就会产生无法预测的缺陷。如果晶圆表面出现大量缺陷,则无法正确创建电路图案,从而导致图案缺失。如果有许多缺陷,它们会阻止电子电路正常工作,从而使芯片成为有缺陷的产品。 2022-04-12

为防止“物传人”现象,国科温州研究院研究出消杀“神器”!

本次提供的大功率光消设备由国科温州研究院科研团队研发,用科学技术助力抗疫战疫。这是一款采用先进半导体芯片的紫外线杀菌消毒设备。紫外线辐照强度超过市面类似产品数十倍,因此杀菌效率很高。 2022-03-22