近日，高能所与故宫博物院合作，利用自主研发的曲面微区X射线荧光光谱仪(图1)在文物表面元素分析领域取得的新突破，实现了对曲面文物的表面自适应高精度荧光扫描成像。相关成果以Applications of surface adaptive micro X-ray fluorescence scanner in cultural relics为题，发表于《npj Heritage Science》期刊。图1 曲面微区X射线荧光光谱仪微区X射线荧光成像技术是一种高空间分辨率的物体表面元素无损分析技术，能够对物体表
2025-12-06
