4月25日，由中国科学院高能物理研究所组织的国家重点研发计划项目《高性能光源关键实验技术与方法研究》对下属课题一《复合功能二维像素阵列探测器》与课题二《小像素二维探测器》的验收会在北京高能所举行。验收专家组由项目专家和同行专家等十人组成。
项目首席刘鹏首先介绍了项目背景和总体情况。他提到：项目下属四个课题，前两个课题主要围绕探测器技术开展前沿研究，都是高能所团队牵头负责;第三、第四课题则围绕“在波长光学检测技术”和“微纳光学聚焦元件”开展研制工作，分别由中科院上海应用物理研究所和同济大学牵头负责。
课题一负责人朱科军和课题二负责人刘鹏分别向专家组汇报了两个课题的研究进展和完成情况。与会专家审阅了两个课题的审计报告、工艺测试报告、技术档案等有关资料，并与项目课题组进行了质询和讨论。
高能所光源探测器团队在原有150微米二维像素阵列探测器研发成功基础上，完成了三款全新像素阵列探测器的研制工作。具体工作包括：完成了55微米二维像素阵列探测器的研发，填补国内空白，性能达到国际先进水平;发展了积分型二维像素阵列探测器技术，帧频和动态范围分别为10kfps和108，达到国际先进水平;发展了基于时间过阈技术的四维探测技术，在国际上首次实现了同时测量入射X射线光子的能量、时间和位置信息，为诸如白光生物大分子晶体时间分辨衍射等先进实验方法的实现提供了强有力的技术支持。
与会专家对两个课题的工作给与了高度肯定和评价，一致同意两个课题通过验收，并希望加快探测器的工程化和产品化进程，早日实现在我国光源装置以及相关X射线应用领域的推广和应用。三种新探测器技术通过验收，标志着我国高端X射线探测器研发水平再次获得显著提升。
验收专家与部分项目团队的合影
