美国Micross公司近日推出新一代标准性能核事件探测器模块NED,该设备专为军事及航天领域对可靠性要求极高的平台设计,适用于军用卫星、导弹发射器、飞机及无人机等系统。相比传统方案,NED模块在辐射剂量率灵敏度上提升超过一倍,响应时间缩短50%以上,在强辐射环境下仍可维持3至5纳秒的响应性能。

该模块采用集成化设计,将差分驱动器和接收器内置於芯片,减少了外部布线与屏蔽需求,同时降低了信号延迟。其核心采用专有PIN二极管与定制ASIC,芯片由Tower Semiconductor旗下Jazz Semiconductor Trusted Foundry生产,该工厂为美国国防部认证的一级可信供应商。
NED被设计为商用现成品模块,便于直接集成至现有设备。其可承受总剂量高达100万拉德的辐射环境,对强中子辐射具有良好抵抗能力,工作温度范围覆盖零下55摄氏度至零上125摄氏度,并采用紧凑的44引脚表面贴装封装。制造商还计划年内推出扩展温度范围及符合MIL-PRF-38534 H级可靠性标准的版本。
该传感器目前已限量供应,预计将于今年晚些时候投入全面量产,并可针对不同应用需求提供灵敏度、响应速度与外壳类型的定制服务。